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首頁 > 產品中心 > 物性分析常用儀器 > 粗糙度儀/探傷儀>SDW-TC230型SDW-TC230 高精度表面粗糙度儀

產品名稱:SDW-TC230 高精度表面粗糙度儀

發(fā)布時間:2024-11-05

產品型號:SDW-TC230型

產品特點:SDW-TC230高精度表面粗糙度儀是一種高精度表面光潔度檢測儀器,可對多種機械加工零件表面的粗糙度進行測量,包括平面、斜面、外圓柱面, 曲面,小孔,溝槽及車軸等。

SDW-TC230型SDW-TC230 高精度表面粗糙度儀的詳細資料:

產品概述


SDW-TC230高精度表面粗糙度儀是一種高精度表面光潔度檢測器,可對多種機械加工零件表面的粗糙度進行測量,包括平面、斜面、外圓柱面, 曲面,小孔,溝槽及車軸等。



主要特點:


1、320×240 彩屏顯示,數字/圖形顯示,高亮無斯角;

2、采用 DSP 芯片進行控制和數據處理,速度快,功耗低;

3、機電一體化設計,體積小,重量輕,使用方便;

4、具有傳感器觸針位置指示功能;

5、兼容 ISO、DIN、ANSI、JIS 等美國、德國、 日本、英國多個國家標準;

6、顯示信息豐富、直觀、可實時顯示參數及圖形;

內置離子充電電池及充電控制電路,容量高、無記憶效應;

7、大容量數據存儲,可存儲 100 組原始數據及波形;

8、連續(xù)工作時間大于 20 小時;

9、可連接專用打印機,現場打印測量結果;

10、具有自動休眠、 自動關機等節(jié)電功能;

11、可靠防電機走死電路及軟件設計,高穩(wěn)定性;

12顯示測量信息、菜單提示信息、錯誤信息及開關機等各 種提示說明信息;

13、中/英文語言選擇。



粗糙度儀技術參數:


測量參數

Ra, Rz=Ry (JIS), Rq,   Rt=Rmax, Rp,Rv, R3z, R3y, RzJIS, Rs, Rsk, Rku, Rsm, Rmr

測量范圍

Ra: 0.005 μm   ~ 16.00 μm

顯示范圍

Ra,Rq: 0.005 μm ~ 16 μm ;Rz, Rv ,R3z,Rt,Rp,R3z: 0.02 μm~ 160 μm

Rsm, Rs:1mm;Rmr:0~100%;Rsk:0~100%

示值精度

0.001μm

量程范圍

±20μm, ±40μm, ±80μm

取樣長度

0.25 0.80 ,2.50, 自動

測量輪廓

粗糙度,波紋度,原始輪廓

評定長度

1L~5L(可選,L 為取樣長度)

濾波器

RC,PC-RC,Gauss,D-P

測量長度

3L~7L(可選,L 為取樣長度)

存儲能力

100 組數據

最大長度

17.5mm / 0.71 inch

數據接口

USB

最小長度

1.3mm / 0.052 inch

電池

內置鋰離子充電電池

示值誤差

≤±7%

外形尺寸

157 mm x 63 mm x 45mm

示值變

<6%

產品重量

457g

針尖角度

90 °

工作條件

溫 度: -20℃~60℃ 相對濕度:< 90%































儀器配置:


名稱

數量

名稱

數量

粗糙度儀主機

1 臺

傳感器

1 個

校準試塊

1 塊

說明書

1 本

支架

1 個

合格證

1 張

適配充電器

1 個

保修卡

1 張

ABS 儀器專用箱

1 個





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