動(dòng)態(tài)光散射納米粒徑分析儀Nicomp N3000是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有專li技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢(shì)

納米粒度儀S900是基于多年的科研成果開(kāi)發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng)，被廣泛應(yīng)用于有機(jī)及無(wú)機(jī)顆粒、乳液、高分子聚合物、表面活性劑、膠素、病毒抗體、蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征。

AccuSizer 780 A9000 FXnano-SIS 納米大顆粒粒度儀集自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)檢測(cè)、數(shù)據(jù)處理等全自動(dòng)檢測(cè)功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。納米大顆粒計(jì)數(shù)器AccuSizer A9000

納米粒徑及Zeta電位分析儀Nicomp Z3000采用*設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)，即可以多角度（步長(zhǎng)0.9μm;）檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測(cè)量Zeta電位。粒度測(cè)試范圍：粒度測(cè)試范圍：0.3 nm – 10 µm。

納米粒度分析儀NS-90在一臺(tái)儀器中集成了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)和靜態(tài)光散射兩種技術(shù)。動(dòng)態(tài)光散射法用于測(cè)量粒度及分子大小，靜態(tài)光散射法用于確定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。這種技術(shù)對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性的要求*，要求每個(gè)設(shè)計(jì)元素都必須實(shí)現(xiàn)優(yōu)化，以確保高準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。